А.с. 452 786: Способ магнитного контроля ферромагнитных
материалов, заключающийся в том, что на поверхность предвари-
тельно намагниченного материала наносят индикатор и по рисун-
ку, образованному под воздействием полей рассеяния, судят о
качестве изделия, отличающийся тем, что с целью повышения его
чувствительности, в качестве индикатора используют монокрис-
таллическую пленку магний-марганцевого феррита с полосовой до-
менной структурой, а изменение состояния индикатора наблюдают
в поляризованном свете.
А.с. 221 345: Способ контроля кристаллизации кондитерских
масс, например, ирисной, в процессе производства путем микрос-
копирования исследуемого образца, отличающийся тем, с целью
повышения точности контроля, микроскопирование осуществляют в
проходящем поляризованном световом луче с измерением при этом
интенсивности светового потока с последующим определением со-
держания кристаллов.
А.с. 249 025: Способ оценки распределния контактных нап-
ряжений по величине деформации пластичной прокладки, распола-
гаемой в зоне контакта между соприкосающимися поверхностями,
отличающийся тем, что с целью повышения точности, в качестве
пластичной прокладки используют пленку из оптически чувстви-
тельного материала, которую затем просвечивают поляризованным
светом в направлении действия контактных сил, и по картине по-
лос судят о распределении контактных напряжений.
5.4.4. Вобщем случае д и ф р а к ц и я - это отлонения
волновых движений от законов геометрической /прямолучевой/ оп-
тики. Если на пути распространения волны имеется препятствие,
то на краях препятствия наблюдается огибание волной края. Если
размеры препятствия велики по сравнению с длиной волны, то
распрстранение волны почти не отклоняется от прямолинейного,
т.е. дифракционные явления не значительны. Если же размеры
препятствия сравнимы с длиной волны, то наблюдается сильное
отклонение от прямолинейного распространения волнового фронта.
При совсем малых размерах препятствия волна полностью его оги-
бает - она "не замечает" препятствия. Очевидно, величина отк-
лонения /количественная характеристика дифракции/ при заданном
препятствии будет зависеть от длины волны; волны с большей
длиной будут сильнее огибать препятствие.

Такое разделение волны используется в дифракционных
спектроскопах, где белый свет /совокупность волн различной
длины/ располагается в спектр с помощью дифракционной решетки-
системы частых полос.
В авторском свидетельстве N'249 468 изменение дифракцион-
ной картины при изменении размеров препятствий использовано
для градировки магнитного поля, под действием которого изменя-
ются параметры ферромагнитной пленки с полосовой доменной
структурой: Способ градировки магнитного поля спомощью этало-
на, отличающийся тем, что с целью повышения точности и упроще-
ния процесса градуровки эталон, в качетве которого использова-
на тонкая ферромагнитная пленка с полосовой доменной
структурой, на которую нанесен магнитный коллоид, намагничива-
ют под определенным углом к направлению силовых линий градуи-
руемого поля, освещают его светом и наблюдают диффрагировавший
на эталоне луч света, затем увеличивают градуируемое поле по
величине, при которой исчезает наблюдаемый луч, сопоставляют
эту величину с известным значением поля переключения эталона.
А.с. 252 625: Способ определения статистических характе-
ристик прозрачных диэлектрических пленок, заключающийся в том,
что через исследуемую пленку пропускают луч света, отличающий-
ся тем, что с целью упрощения процесса и сокращения времени
определения, на пути луча когенентного света за исследуемой
пленкой устанавливают экран с отверстием, вращают исследуемую
пленку в плоскости, перпендикулярной оси луча, получают усред-
ненную дифракционную картину от отверстия и затем из сравнения
полученной усредненной дифракционной картины с расчетной кар-
тиной определяют статические характеристики пленки.
5.4.5. Интенференция волны.
Явление, возникающее при наложении двух или нескольких
волн и состоящее в устойчивом во времени их взаимном усилении
в одних точках пространства и ослаблении в других в зависимос-
ти от соотношения между фазами этих волн. Интерференционная
картина может наблюдаться только в случае когерентных волн, т.
е. волн, разность фаз которых не зависит от времени. При ин-
терференции поперечных волн помимо когерентности волн необхо-
димо, чтобы им соответствовали колебания, совершающиеся вдоль
одного и того же или близких напрвлений: поэтому две когерент-
ные волны, поляризованные во взаимно перпендикулярных направ-
лениях интерферировать не будут. Существует много различных
методов получения когерентных волн: наиболее широко распрост-
раненными Являются способы, основанные на использовании прямой
и отраженной волны; если отраженная волна направлена точно на-
зад т.е. на 180 градусов, то могут возникнуть стоячие волны.

А.с. 154 676: Способ определения абсолютного значения ус-
корения силы тяжести, отличающийся тем, что с целью повышения
точности измерения абсолютного значения ускорения силы тяжес-
ти, время падения измеряют путем подсчета количества временных
периодических интервалов, задаваемых эталоном частоты, в пери-
од между моментами совпадения отрезков пути свободного падения
с длиной трубчатого концевого эталона, сличаемых интерференци-
онным методом в процессе свободного падения тела.
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86